Karakterizasyon ve Analiz Sistemleri

KARAKTERİZASYON VE ANALİZ SİSTEMLERİ

Kryostat Sistemleri

kryostat sistemleri

AC Alınganlık Ölçüm Sistemi

Elektriksel Ölçü Aletleri

elektriksel ölçü aletleri

Hall Effect Ölçüm Sistemi

Ecopia Hall Effect Ölçüm Sistemi

Yüzey Plazmon Rezonans – SPR

Yüzey ve Arayüzey Ölçüm Cihazları

Fotometri Sistemleri

Güneş Simülatörleri

Batarya Analiz Sistemleri

Spektrofotometreler

Spektrofotometreler

Elipsometre

Elipsometre

Seebeck Katsayısı/Elektriksel İletkenlik Ölçüm Cihazı

Seebeck Katsayısı/Elektriksel İletkenlik Ölçüm Cihazı

Termal İletkenlik Ölçüm Cihazı

Termal İletkenlik Ölçüm Cihazı

Raman – PL Haritalama Sistemleri

Raman – PL Haritalama Sistemleri

Notice: ob_end_flush(): failed to send buffer of zlib output compression (0) in /home/tek105comtr/public_html/wp-includes/functions.php on line 5420

Notice: ob_end_flush(): failed to send buffer of zlib output compression (0) in /home/tek105comtr/public_html/wp-content/plugins/really-simple-ssl/class-mixed-content-fixer.php on line 107